產品詳情
簡單介紹：
平行平晶：是以光波干涉原理為基礎，利用平晶的測量面與試件的被測量面之間所出現的干涉條紋來測量被測量面的誤差。平行平晶據有高精度的平面性和平行性。
平行平晶：用于檢定千分尺、杠桿千分尺、杠桿卡規(guī)和千分尺卡規(guī)等量具測量面的平面度和兩相對測量的平行度。
詳情介紹：
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平行平晶
平行平晶：是以光波干涉原理為基礎，利用平晶的測量面與試件的被測量面之間所出現的干涉條紋來測量被測量面的誤差。平行平晶據有高精度的平面性和平行性。
在平晶和待檢測物體之間用以簿片墊起，利用兩物體之間的空氣層對光線的反射后產生的干涉圖像進行檢測待測物體表面的光滑程度。 平行平晶：用于檢定千分尺、杠桿千分尺、杠桿卡規(guī)和千分尺卡規(guī)等量具測量面的平面度和兩相對測量的平行度。
具體規(guī)格：
0-25
25-50
50-75
75-100
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